Alta velocidad, alta resolución

Serie X de FLIR

No pierda ni un momento de pruebas críticas

En entornos exigentes como la investigación científica, de defensa y aeroespacial, los eventos de pruebas críticas pueden durar solo una fracción de segundo y los datos omitidos podrían resultar costosos.  Por lo tanto, tener una cámara de infrarrojos de alto rendimiento es esencial para capturar y transmitir eventos de alta velocidad sin problemas, lo que garantiza que no se pierdan datos ni se pierdan fotogramas.

Presentamos las cámaras FLIR X6980-HS y X8580-HS: las últimas incorporaciones a la familia de la serie X. Estas cámaras de infrarrojos de alta velocidad y alta definición ofrecen capacidades de transmisión de datos sin igual, lo que garantiza cero fotogramas perdidos.

En los campos en los que las pruebas son caras, perder incluso un solo fotograma podría significar perder datos cruciales.

Now Playing

Now Playing

Software de análisis que trabaja como usted 

FLIR Research Studio

Research Studio proporciona a los usuarios una forma rápida y eficiente de mostrar, registrar, analizar e incluir en informes datos térmicos precisos. Con una interfaz de usuario intuitiva y perfeccionada y un conjunto único de características, los usuarios de cualquier nivel podrán registrar y evaluar los datos térmicos sin esfuerzo de varias cámaras FLIR y fuentes grabadas simultáneamente.

Más información sobre Research Studio

Elija la cámara adecuada para su investigación

FLIR X8580-HS: Imágenes de alta definición, frecuencias de imágenes rápidas

Las pruebas no destructivas (NDT), la radiometría avanzada, el diseño de componentes electrónicos y las caracterizaciones de firma de objetivos se benefician de la alta definición del sensor térmico de 1280 × 1024 del X8580-HS InSb, que detecta pequeñas diferencias de temperatura con muy poco ruido. Además, la X8580-HS SLS, con su detector de superredes de capa tensa de onda larga, ofrece velocidades de instantánea más cortas para que pueda capturar imágenes nítidas de detención de movimiento de eventos de alta velocidad.
FLIR X6980-HS InSb™

FLIR X6980-HS InSb™

  • 640 × 512 thermal resolution
  • FLIR indium antimonide (InSb) detector
  • 1.5–5.0 µm spectral range
View Product

Resolution

640 × 512

Detector Pitch

25 µm

Spectral Range

1.5–5.0 µm

FLIR X6980-HS SLS™

FLIR X6980-HS SLS™

  • 640 × 512 thermal resolution
  • Strained layer superlattice (SLS) detector
  • 7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper) spectral range
View Product

Resolution

640 × 512

Detector Pitch

25 µm

Spectral Range

7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)

FLIR X8580-HS InSb™

FLIR X8580-HS InSb™

  • 1280 × 1024 thermal resolution
  • FLIR indium antimonide (InSb) detector
  • 1.5–5.0 µm spectral range
View Product

Resolution

1280 × 1024

Detector Pitch

12 µm

Spectral Range

FLIR X8580-HS InSb, FLIR X8582-HS InSb : 1.5 – 5.0 µm
FLIR X8581-HS InSb, FLIR X8583-HS InSb: 3.0 – 5.0 µm

FLIR X8580-HS SLS™

FLIR X8580-HS SLS™

  • 1280 × 1024 thermal resolution
  • Strained layer superlattice (SLS) detector
  • 7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper) spectral range
View Product

Resolution

1280 × 1024

Detector Pitch

12 µm

Spectral Range

7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)

Resolution

640 × 512

Resolution

640 × 512

Resolution

1280 × 1024

Resolution

1280 × 1024

Detector Pitch

25 µm

Detector Pitch

25 µm

Detector Pitch

12 µm

Detector Pitch

12 µm

Spectral Range

1.5–5.0 µm

Spectral Range

7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)

Spectral Range

FLIR X8580-HS InSb, FLIR X8582-HS InSb : 1.5 – 5.0 µm
FLIR X8581-HS InSb, FLIR X8583-HS InSb: 3.0 – 5.0 µm

Spectral Range

7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)