As câmeras FLIR com recursos de travamento, transiente e pulso podem realizar inspeções avançadas, como testes não destrutivos (NDT) ou mapeamento de estresse, resolvendo diferenças de temperatura tão baixas quanto 1 mK. O NDT é amplamente usado para avaliar as propriedades de um material, componente ou sistema sem causar danos. As câmeras de IV podem detectar defeitos internos por meio da excitação do alvo e da observação de diferenças térmicas na superfície do alvo. As imagens térmicas são uma ferramenta valiosa para detectar defeitos e pontos de falha em compostos, células solares, pontes e componentes eletrônicos. Também é uma ferramenta ótima para mapeamento térmico de estresse ao efetuar teste de materiais.
