Alta velocidade, alta resolução

Série X da FLIR

Não perca um momento de testes críticos

Em ambientes exigentes, como pesquisas científicas, de defesa e aeroespaciais, testes críticos podem durar apenas uma fração de segundo e a falta de dados pode ser bastante dispendiosa.  Portanto, ter uma câmera de infravermelho de alto desempenho é essencial para capturar e transmitir eventos de alta velocidade sem falhas, garantindo que não haja perda de dados nem de quadros.

Apresentando a FLIR X6980-HS e a X8580-HS: as mais recentes adições à família da série X. Essas câmeras infravermelhas de alta velocidade e alta definição oferecem recursos incomparáveis de streaming de dados, garantindo que não haja queda de quadros.

Em campo, quando os testes são caros, perder até mesmo um único quadro pode significar a falta de dados cruciais.

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Um software de análise projetado para complementar o seu trabalho 

FLIR Research Studio

O Research Studio oferece aos usuários uma maneira rápida e eficiente de exibir, gravar, analisar e relatar dados térmicos com precisão. Com uma interface gráfica do usuário simples e intuitiva e um conjunto exclusivo de recursos, usuários de todos os níveis podem facilmente gravar e avaliar dados térmicos de diferentes câmeras FLIR e fontes gravadas simultaneamente.

Escolha a câmera certa para sua pesquisa

FLIR X8580-HS: Imagens de alta definição, taxas de quadros rápidas

Testes não destrutivos (NDT), radiometria avançada, design de componentes eletrônicos e caracterizações de assinatura de alvo se beneficiam do sensor térmico de alta definição de 1280 × 1024 da X8580-HS InSb, que detecta pequenas diferenças de temperatura com muito pouco ruído. Além disso, a X8580-HS SLS, com seu detector de superlattice de camada tensionada de onda longa, oferece velocidades de instantâneo mais curtas para que você possa capturar imagens nítidas de stop motion de eventos de alta velocidade.
FLIR X6980-HS InSb™

FLIR X6980-HS InSb™

  • Resolução térmica de 640 × 512
  • Detector de antimoneto de índio (InSb) da FLIR
  • Faixa espectral de 1,5 a 5,0 µm
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Resolução

640 x 512

Pitch do Detector

25 µm

Faixa Espectral

1,5–5,0 µm

FLIR X6980-HS SLS™

FLIR X6980-HS SLS™

  • Resolução térmica de 640 × 512
  • Detector de supertreliça de camada deformada (SLS)
  • Faixa espectral de 7,5 µm (inferior), 11,5–12,5 µm (superior)
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Resolução

640 512×

Pitch do Detector

25 µm

Faixa Espectral

7,5 µm (inferior), 11,5–12,5 µm (superior)

FLIR X8580-HS InSb™

FLIR X8580-HS InSb™

  • Resolução térmica de 1280 × 1024
  • Detector de antimoneto de índio (InSb) da FLIR
  • Faixa espectral de 1,5 a 5,0 µm
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Resolução

1280 × 1024

Pitch do Detector

12 µm

Faixa Espectral

FLIR X8580-HS InSb, FLIR X8582-HS InSb: 1,5 – 5,0 µm
FLIR X8581-HS InSb, FLIR X8583-HS InSb: 3,0 – 5,0 µm

FLIR X8580-HS SLS™

FLIR X8580-HS SLS™

  • Resolução térmica de 1280 × 1024
  • Detector de supertreliça de camada deformada (SLS)
  • Faixa espectral de 7,5 µm (inferior), 11,5–12,5 µm (superior)
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Resolução

1280 x 1024

Pitch do Detector

12 µm

Faixa Espectral

7,5 µm (inferior), 11,5–12,5 µm (superior)

Resolução

640 x 512

Resolução

640 512×

Resolução

1280 × 1024

Resolução

1280 x 1024

Pitch do Detector

25 µm

Pitch do Detector

25 µm

Pitch do Detector

12 µm

Pitch do Detector

12 µm

Faixa Espectral

1,5–5,0 µm

Faixa Espectral

7,5 µm (inferior), 11,5–12,5 µm (superior)

Faixa Espectral

FLIR X8580-HS InSb, FLIR X8582-HS InSb: 1,5 – 5,0 µm
FLIR X8581-HS InSb, FLIR X8583-HS InSb: 3,0 – 5,0 µm

Faixa Espectral

7,5 µm (inferior), 11,5–12,5 µm (superior)

Resources & Support

Artigo

FLIR Innovate and Inspire: uma nova revista da FLIR

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FLIR X6980-HS SLS Datasheet

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