无损检测 （NDT）、高级辐射测量、电子元件设计和目标特征表征均受益于 X8580-HS InSb 的高清 1280 × 1024 热传感器，该传感器可检测微小温差，噪音极低。此外，X8580-HS SLS 配备长波、应变层超晶格探测器，可提供更短的快照速度，因此您可以捕获高速事件的清晰停止运动图像。
零丢帧。零妥协。
高速、高分辨率
FLIR X 系列
关键测试，片刻不容有失
在科学、国防和航空航天研究等要求苛刻的环境下，关键测试事件可能只持续几分之一秒，错失数据的代价可能非常高昂。 因此，拥有一台高性能红外相机对于完美地捕捉和传输高速事件至关重要，可以确保不会错失数据，也不会丢帧。
介绍 FLIR X6980-HS 和 X8580-HS：X系列家族的最新成员。这些高速、高清红外相机可提供卓越的数据传输功能，保证零丢帧。
在测试成本高昂的领域，即使只丢失一帧也可能意味着缺失关键数据。
再也不会错过关键数据
消除数据丢失和丢帧
以超快的帧率直接记录到 4 TB 可移动固态硬盘 (SSD)，不会有任何丢帧。
轻松共享数据
简化的设置，可通过全新的 10 GigE、CXP 2.1 和 CameraLink 全高速接口直接录制到 PC上。
精确记录高速事件
特有的触发、同步，以及精确的 IRIG 时间戳系统可确保精确而准时的记录。
电动调焦镜头
FLIR 已将新一代 X 系列相机与全套长波红外和中波红外电动镜头兼容。这些相机经过定制设计，性能出众，可实现更精确的远程对焦。这些产品还完整集成了 Research Studio，以增强控制。
FLIR Research Studio
Research Studio 为用户提供了快速而高效地显示、记录、分析和报告精确热数据的方法。借助简化、直观的图形用户界面 (GUI) 和独特的功能集，所有级别的用户都能轻松地同时记录和评估来自多台 FLIR 相机和记录源的热数据。
选择适合您研究的相机
FLIR X8580-HS：高清晰度图像、高帧率
请咨询 FLIR 的技术人员，以了解更多信息并安排演示。
FLIR X6980-HS InSb™
- 640 × 512 热分辨率
- FLIR 锑化铟 (InSb) 探测器
- 1.5–5.0 µm 光谱范围
分辨率
640 × 512
探测器像素间距
25 µm
波长范围
1.5–5.0 µm
FLIR X6980-HS SLS™
- 640 × 512 热分辨率
- 应变层超晶格 (SLS) 探测器
- 7.5 µm（下限），11.5–12.5 µm（上限）光谱范围
分辨率
640 × 512
探测器像素间距
25 µm
波长范围
7.5 µm（下），11.5–12.5 µm（上）
FLIR X8580-HS InSb™
- 1280 × 1024 热分辨率
- FLIR 锑化铟 (InSb) 探测器
- 1.5–5.0 µm 光谱范围
分辨率
1280 × 1024
探测器像素间距
12 µm
波长范围
FLIR X8580-HS InSb、FLIR X8582-HS InSb：1.5 – 5.0 µm
FLIR X8581-HS InSb、FLIR X8583-HS InSb：3.0 – 5.0 µm
FLIR X8580-HS SLS™
- 1280 × 1024 热分辨率
- 应变层超晶格 (SLS) 探测器
- 7.5 µm（下限），11.5–12.5 µm（上限）光谱范围
分辨率
1280 × 1024
探测器像素间距
12 µm
波长范围
7.5 µm（下），11.5–12.5 µm（上）
分辨率
640 × 512
分辨率
640 × 512
分辨率
1280 × 1024
分辨率
1280 × 1024
探测器像素间距
25 µm
探测器像素间距
25 µm
探测器像素间距
12 µm
探测器像素间距
12 µm
波长范围
1.5–5.0 µm
波长范围
7.5 µm（下），11.5–12.5 µm（上）
波长范围
FLIR X8580-HS InSb、FLIR X8582-HS InSb：1.5 – 5.0 µm
FLIR X8581-HS InSb、FLIR X8583-HS InSb：3.0 – 5.0 µm
波长范围
7.5 µm（下），11.5–12.5 µm（上）
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