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FLIR X8580™

科学级高清中波红外热像仪

FLIR X8580 中波红外热像仪专为科学家和工程师而设计,借助它,用户可以捕捉到快速事件的细节图像,以便进行准确的红外分析,自定义测量目标辐射数据,检测复合材料、太阳能电池和电子产品里的失效点。这款红外热像仪将 1280 × 1024 高清分辨率与高帧率和快积分时间相结合,使研究人员能够记录高速事件的每个动态细节或温度的迅速变化,—无论是在实验室环境下还是在测试范围内均是如此。X8580 搭载四位电动滤镜轮,支持 FLIR 电动调焦镜头,可提供更高质量的记录,可节省时间,使用户从容应对动态数据采集环境。。

出色的性能,极具颠覆性的功能
在热像仪内存中直接录制最长 34 秒钟,或在自带的 512 GB 固态硬盘 (SSD) 上录制最长 15 分钟的全高清 (HD) 分辨率数据
轻易地捕捉必要数据,使用触发输出和新的三级同步输出精确控制何时生成图像帧
可通过任何数字数据总线直接从 SSD 传输热数据,利用 FLIR Research Studio 软件进行高级分析

规格

Highlighted
分辨率 1280 × 1024
探测器像素间距 12 µm
波长范围 X8580 InSb, X8582 InSb: 1.5–5.0 µm
X8581 InSb: 3.0–5.0 µm
探测器类型 FLIR indium antimonide (InSb)
热像仪光圈数 X8580 InSb, X8581 InSb: f/2.5
X8582 InSb: f/4.1
动态范围 14-bit
热灵敏度(NETD) 30 mK typical
帧频[全窗口] Programmable: ~0.5 Hz to 181 Hz
标准温度范围 [带带宽匹配光学元件] X8580 InSb, X8582 InSb: -20°C to 350°C (-4°F to 662°F)
X8581 InSb: -20°C to 350°C (-4°F to 662°F), -10°C/14°F for microscopes
可选温度范围 [带带宽匹配光学元件] ND1: 45°C–600°C (113°F–1112°F) ND2: 250°C–2000°C (482°F–3632°F) ND3: 500°C–3000°C (957°F–5432°F)
滤波 4-Position motorized warm filter wheel, standard 1-inch filters, user swappable
调焦 Motorized (compatible w/manual)
成像与光学
下载摄像机 RAM、SSD 记录 Transfer from SSD through GigE, CXP, or CL to Research Studio v2.1 or higher
传感器制冷 Linear sterling cooler
像素时钟 355 MHz
内置图像存储 RAM (volatile): 16 GB, up to 6,500 frames full frame SSD (user-removable/non-volatile): ~15 minutes of recording with included 512 GB SSD (more than 2 hours possible with 4 TB SSD purchased separately)
分辨率 1280 × 1024
动态范围 14-bit
叠加 Customizable (ability to toggle off)
可操作性 ≥99.95% typical
可选镜头 X8580 InSb, X8582 InSb: Manual (broadband): 25 mm, 50 mm, 100 mm Motorized (broadband): None
X8581 InSb: Manual (3–5 µm): 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm Motorized (3–5 µm): 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm
图像时戳 Internal IRIG-B decoder clock TSPI accurate time stamp
子窗口模式 Flexible windowing down to 64 × 4 (steps of 64 columns, 4 rows)
帧频[全窗口] Programmable: ~0.5 Hz to 181 Hz
探测器像素间距 12 µm
探测器类型 FLIR indium antimonide (InSb)
数字变焦 1x, Auto (best fit)
标准视频 HDMI, SDI
波长范围 X8580 InSb, X8582 InSb: 1.5–5.0 µm
X8581 InSb: 3.0–5.0 µm
滤波 4-Position motorized warm filter wheel, standard 1-inch filters, user swappable
热像仪光圈数 X8580 InSb, X8581 InSb: f/2.5
X8582 InSb: f/4.1
热灵敏度(NETD) 30 mK typical
直接录入 SSD Yes, removable 512 GB SSD included
视频模式 HD-SDI: 720p@50/59.9Hz, 1080p@25/29.97Hz; SD-SDI: 480i@60Hz, 576i@50Hz
读出模式 Asynchronous integrate while read, Asynchronous integrate then read
读出类型 Snapshot
调焦 Motorized (compatible w/manual)
调色板 Selectable 8-bit
辐射数据流 Simultaneous Gigabit Ethernet (GigE Vision), Camera Link,CoaXPress® 1.1, dual 5 Gb links
近焦镜头/显微镜 X8580 InSb, X8582 InSb: No broadband microscopes available
X8581 InSb: 1x, 3x, 50mm close focus
镜头接口 FLIR FPO-M (4-tab bayonet, motorized)
测量与分析
可选温度范围 [带带宽匹配光学元件] ND1: 45°C–600°C (113°F–1112°F) ND2: 250°C–2000°C (482°F–3632°F) ND3: 500°C–3000°C (957°F–5432°F)
标准温度范围 [带带宽匹配光学元件] X8580 InSb, X8582 InSb: -20°C to 350°C (-4°F to 662°F)
X8581 InSb: -20°C to 350°C (-4°F to 662°F), -10°C/14°F for microscopes
环境漂移补偿 [带出厂校准] Yes
精度 ≤100°C: ±2°C (±1°C typical), >100°C: ±2% of reading (±1% typical)
自动增益控制 Manual, Linear, Plateau equalization, ROI, DDE
通讯与数据存储
同步模式 Sync In, Sync Out, Tri-Level Sync
电源
电源 24 VDC (<50 W steady state)
环境与认证
安装 2 × 1/4 in -20 / 1 × 3/8 in -16 / 4 × #10 -24 / Side: 3x 1/4 in -20 (each side)
工作温度范围 -20°C to 50°C (-4°F to 122°F)

Accessories

Resources & Support

文章

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阿拉伯联合酋长国 17-0882(2017年4月)

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United Kingdom +44 (0)1732 220 11

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印度德里 2016年11月18日

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印度法里达巴德 +91 (129) 431-5031/32

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日本 400-683-1958

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新加坡 +65 3157 1750

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韩国 2017 年 2 月 8 日

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