비파괴 테스트(NDT), 고급 방사 측정, 전자 부품 설계 및 대상 서명 특성화는 모두 노이즈가 거의 없는 작은 온도 차이를 감지하는 X8580-HS InSb의 고화질 1280 × 1024 열 센서의 이점을 제공합니다. 또한 X8580-HS SLS는 장파 변형 레이어 초격자 감지기를 통해 더 짧은 스냅샷 속도를 제공하므로 고속 이벤트의 선명한 정지 모션 이미지를 캡처할 수 있습니다.
제로 드롭 프레임. 제로 타협.
고속, 고해상도
FLIR X-시리즈
중요한 테스트의 순간을 놓치지 마세요
과학, 방위 및 항공우주 연구와 같은 까다로운 환경에서 중요한 테스트 이벤트는 몇 초 동안만 지속될 수 있으며 데이터 누락으로 비용이 많이 들 수 있습니다. 따라서 고속 이벤트를 완벽하게 캡처하고 스트리밍하기 위해서는 고성능 적외선 카메라가 필수적이며, 데이터 누락과 프레임 손실이 발생하지 않습니다.
X-시리즈 제품군의 최신 제품 FLIR X6980-HS 및 X8580-HS를 소개합니다. 이 고속 고화질 적외선 카메라는 탁월한 데이터 스트리밍 기능을 제공하여 프레임이 손실되지 않도록 보장합니다.
테스트 비용이 많이 드는 분야에서는 한 프레임만 손실되어도 중요한 데이터가 누락될 수 있습니다.
Crucial 데이터를 다시 놓치지 마세요
데이터 손실 및 프레임 삭제 제거
프레임 손실 없이 가장 빠른 프레임 속도로 장시간 동안 이동식 4TB 솔리드 스테이트 드라이브(SSD)에 직접 녹화할 수 있습니다.
손쉬운 데이터 공유
최신 10GigE, CXP 2.1 및 CameraLink Full 고속 인터페이스를 사용하여 PC에 직접 기록할 때 설정을 간소화합니다.
고속 이벤트를 정확하게 기록
독점적인 트리거링, 동기화, 정확한 IRIG 타임 스탬핑 시스템으로 정확한 정시 기록을 보장합니다.
전동식 렌즈
FLIR는 LWIR 및 MWIR 전동 렌즈의 전체 제품군과 호환되는 차세대 X-시리즈 카메라를 만들었습니다. 이 카메라는 최적의 성능을 위해 맞춤 설계되어 보다 정밀하며 원격으로 초점을 조정할 수 있습니다. 또한 제어 향상을 위해 Research Studio와 완벽하게 통합됩니다.
FLIR Research Studio
Research Studio는 정확한 열 데이터를 표시, 기록, 분석 및 보고하는 빠르고 효율적인 방법을 사용자에게 제공합니다. 능률적이고 직관적인 GUI와 고유한 기능 세트를 통해 모든 수준의 사용자는 여러 FLIR 카메라와 녹화된 소스의 열 데이터를 동시에 쉽게 녹화하고 평가할 수 있습니다.
연구에 적합한 카메라를 선택하십시오.
FLIR X8580-HS: 고화질 이미지, 빠른 프레임 속도
FLIR 전문가와 상담하여 자세한 정보를 얻고 데모 일정을 잡으십시오.
FLIR X6980-HS InSb™
- 640 × 512 thermal resolution
- FLIR indium antimonide (InSb) detector
- 1.5–5.0 µm spectral range
Resolution
640 × 512
Detector Pitch
25 µm
Spectral Range
1.5–5.0 µm
FLIR X6980-HS SLS™
- 640 × 512 thermal resolution
- Strained layer superlattice (SLS) detector
- 7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper) spectral range
Resolution
640 × 512
Detector Pitch
25 µm
Spectral Range
7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)
FLIR X8580-HS InSb™
- 1280 × 1024 thermal resolution
- FLIR indium antimonide (InSb) detector
- 1.5–5.0 µm spectral range
Resolution
1280 × 1024
Detector Pitch
12 µm
Spectral Range
FLIR X8580-HS InSb, FLIR X8582-HS InSb : 1.5 – 5.0 µm
FLIR X8581-HS InSb, FLIR X8583-HS InSb: 3.0 – 5.0 µm
FLIR X8580-HS SLS™
- 1280 × 1024 thermal resolution
- Strained layer superlattice (SLS) detector
- 7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper) spectral range
Resolution
1280 × 1024
Detector Pitch
12 µm
Spectral Range
7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)
Resolution
640 × 512
Resolution
640 × 512
Resolution
1280 × 1024
Resolution
1280 × 1024
Detector Pitch
25 µm
Detector Pitch
25 µm
Detector Pitch
12 µm
Detector Pitch
12 µm
Spectral Range
1.5–5.0 µm
Spectral Range
7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)
Spectral Range
FLIR X8580-HS InSb, FLIR X8582-HS InSb : 1.5 – 5.0 µm
FLIR X8581-HS InSb, FLIR X8583-HS InSb: 3.0 – 5.0 µm
Spectral Range
7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)
