전자제품 테스트 요구를 충족하는 완벽한 열화상 카메라 시스템
간편한 문제 해결
글로벌 녹색 에너지 및 디지털화 이니셔티브를 지원하기 위해 전자 시스템 및 구성 요소에 대한 수요가 증가함에 따라 효율적인 설계 및 검증 테스트에 대한 필요성도 증가하고 있습니다.
열화상 촬영은 이 프로세스에 매우 중요하며, 잠재적인 문제를 해결하고 열 효율성을 최적화하며 심지어 위조 부품을 식별하기 위해 정확한 온도 정보를 제공합니다.
FLIR A6700 시리즈 카메라는 세련된 0.015mm 픽셀 피치 검출기를 갖추고 있어 매우 선명한 열화상을 생성합니다.
적절한 클로즈업 또는 현미경 렌즈와 함께 사용할 경우 다양한 전자 설계 및 테스트 용도에 이상적인 솔루션입니다.
아래에서 저비용 A6700 MWIR 패키지를 확인한 다음 전문가에게 문의하여 시작하십시오.
FLIR A6701 MWIR 매크로 렌즈 및 스탠드 패키지
640 × 512(327,680)픽셀 FLIR A6701을 MWIR 매크로 렌즈 및 스탠드와 결합하면 다양한 전자 어셈블리 및 하위 부품을 위한 유연한 시스템을 제공하는 동시에 개별 표면 장착 부품의 온도를 정확하게 측정하는 데 필요한 작은 공간 해상도를 제공합니다. 렌즈는 무한대에 초점을 맞출 수 있지만 최소 작동 거리 110mm에서는 픽셀당 공간 해상도 33μm로 총 21.2mm × 16.9mm의 전체 시야를 제공할 수 있습니다.
FLIR A6701 MIWR 패키지, 1X 현미경 렌즈 및 스탠드 포함
1X MWIR 현미경 렌즈는 FLIR A6701 MWIR 카메라와 함께 사용하여 집적 회로에서 작은 열적 이상을 발견하거나 개별 부품에서 방출되는 열을 측정하여 연구원과 엔지니어가 전기 효율성을 개선할 수 있습니다. 현미경 스탠드는 전체 시스템을 안정화하여 9.6mm x 7.68mm 표적 영역을 15μm/픽셀의 공간 해상도로 덮는 선명한 영상을 가능하게 합니다.
FLIR Research Studio로 열 데이터 분석 및 공유 극대화
두 A6701 MWIR 패키지 모두 FLIR Research Studio Professional Edition을 포함합니다.
이 강력한 소프트웨어를 사용하면 각 관심 영역에 대해 별도의 방사율 값을 설정하고 실시간 및 기록된 열 데이터 모두에 대해 알려진 온도를 기반으로 구성 요소의 방사율 값을 계산할 수 있으므로 정확한 온도 정보를 기반으로 결정을 내릴 수 있습니다.
팀원 간의 협업을 향상시키고, 테스트 효율성을 높이고, 번역 불량으로 인한 오해의 가능성을 줄이는 데 도움을 드리는 다국어 및 다중 플랫폼 지원(Windows, MacOS, Linux) 기능이 제공됩니다.