Hohe Auflösung, hohe Geschwindigkeit

FLIR X-Serie

Verlieren Sie keinen Moment kritischer Tests

In anspruchsvollen Umgebungen wie der Wissenschaft, der Verteidigung sowie Luft- und Raumfahrtforschung können kritische Testereignisse nur einen Bruchteil einer Sekunde dauern, und fehlende Daten könnten sich als kostspielig erweisen.  Eine leistungsstarke Infrarotkamera ist daher unerlässlich, um Hochgeschwindigkeitsereignisse fehlerfrei und ohne Daten- oder Bildverlust zu erfassen und zu übertragen.

Wir stellen vor: FLIR X6980-HS und X8580-HS, die neuesten Ergänzungen der X-Serie. Diese hochauflösenden Hochgeschwindigkeits-Infrarotkameras bieten unübertroffene Datenstreaming-Funktionen und garantieren, dass keine Einzelbilder verloren gehen.

In Bereichen, in denen Tests teuer sind, könnte der Verlust eines einzelnen Bildes bedeuten, dass wichtige Daten fehlen.

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Die Analysesoftware, die sich flexibel an Ihre Arbeitsweise anpasst 

FLIR Research Studio

Research Studio bietet den Benutzern eine schnelle und effiziente Methode zum Darstellen, Aufzeichnen, Analysieren und Protokollieren präziser Wärmebilddaten. Mit einer optimierten, intuitiven grafischen Benutzeroberfläche und einem einzigartigen Funktionsumfang können Anwender aller Erfahrungsstufen mühelos Wärmebilddaten von mehreren FLIR-Kameras und aufgezeichneten Quellen gleichzeitig aufzeichnen und auswerten.

Wählen Sie die Kamera, die für Ihre Forschung geeignet ist

FLIR X8580-HS: Hochauflösende Bilder, schnelle Bildraten

Zerstörungsfreie Tests (NDT), fortschrittliche Radiometrie, elektronisches Komponentendesign und Target-Signatur-Charakterisierungen profitieren alle vom hochauflösenden 1280 × 1024-Thermosensor des X8580-HS InSb, der kleine Temperaturunterschiede mit sehr geringem Geräuschpegel erkennt. Darüber hinaus bietet der X8580-HS SLS mit seinem langwelligen, überlasteten Schicht-Superlattdetektor kürzere Snapshot-Geschwindigkeiten, sodass Sie scharfe Stopp-Bewegungsbilder von Hochgeschwindigkeitsereignissen erfassen können.
FLIR X6980-HS InSb™

FLIR X6980-HS InSb™

  • 640 × 512 thermische Auflösung
  • FLIR Indium-Antimonid (InSb)-Detektor
  • Spektralbereich: 1,5–5,0 µm
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Resolution

640 × 512

Detector Pitch

25 µm

Spectral Range

1,5–5,0 µm

FLIR X6980-HS SLS™

FLIR X6980-HS SLS™

  • 640 × 512 thermische Auflösung
  • Detektor für Übergitterung (SLS)
  • 7,5 µm (unten), 11,5–12,5 µm (oben) Spektralbereich
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Resolution

640 512×

Detector Pitch

25 µm

Spectral Range

7,5 µm (unterer), 11,5–12,5 µm (oberer)

FLIR X8580-HS InSb™

FLIR X8580-HS InSb™

  • 1280 × 1024 thermische Auflösung
  • FLIR Indium-Antimonid (InSb)-Detektor
  • Spektralbereich: 1,5–5,0 µm
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Resolution

1280 × 1024

Detector Pitch

12 µm

Spectral Range

FLIR X8580-HS InSb, FLIR X8582-HS InSb: 1,5 – 5,0 µm
FLIR X8581-HS InSb, FLIR X8583-HS InSb: 3,0 – 5,0 µm

FLIR X8580-HS SLS™

FLIR X8580-HS SLS™

  • 1280 × 1024 thermische Auflösung
  • Detektor für Übergitterung (SLS)
  • 7,5 µm (unten), 11,5–12,5 µm (oben) Spektralbereich
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Resolution

1280 × 1024

Detector Pitch

12 µm

Spectral Range

7,5 µm (unterer), 11,5–12,5 µm (oberer)

Resolution

640 × 512

Resolution

640 512×

Resolution

1280 × 1024

Resolution

1280 × 1024

Detector Pitch

25 µm

Detector Pitch

25 µm

Detector Pitch

12 µm

Detector Pitch

12 µm

Spectral Range

1,5–5,0 µm

Spectral Range

7,5 µm (unterer), 11,5–12,5 µm (oberer)

Spectral Range

FLIR X8580-HS InSb, FLIR X8582-HS InSb: 1,5 – 5,0 µm
FLIR X8581-HS InSb, FLIR X8583-HS InSb: 3,0 – 5,0 µm

Spectral Range

7,5 µm (unterer), 11,5–12,5 µm (oberer)

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Artikel

FLIR Innovate and Inspire: ein neues FLIR Magazin

So funktioniert es

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FLIR X6980-HS SLS Datenblatt

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FLIR X6980-HS SLS Datasheet

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FLIR X6980-HS INSB Datenblatt

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FLIR X6980 Datasheet GB

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FLIR X6980-HS INSB Datasheet

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