Discontinued

FLIR X8580 SLS™

Hochauflösende LWIR-Kamera in wissenschaftlicher Qualität

Product Variations

Die FLIR X8580 SLS ist eine hochauflösende Hochgeschwindigkeits-Langwellen-IR-Kamera, die für Wissenschaftler und Ingenieure entwickelt wurde, die detaillierte Bilder von schnellen Ereignissen aufnehmen, individuelle radiometrische Messungen durchführen oder Fehlstellen in Verbundwerkstoffen, Solarzellen und Elektronik erkennen müssen. Diese Wärmebildkamera kombiniert die Auflösung des SLS-Detektors von 1280 × 1024 mit hohen Bildgeschwindigkeiten, um kürzere Momentaufnahmen und breitere Temperaturbänder zu bieten und so von sehr schnellen Ereignissen scharfe Bilder in Stop-Motion zu machen. Mit einem motorgetriebenen Filterrad mit vier Positionen und Unterstützung für motorgetriebene Fokusobjektive von FLIR ermöglicht die X8580 SLS bessere Aufnahmen, spart Zeit und verringert Frustration in dynamischen Aufnahmeumgebungen.

Aufnahme von Bildern in Full-HD mit 1280 × 1024 und Integrationszeiten, die 10-mal kürzer sind als bei MWIR InSb-Kameras (Umgebungstemperaturen)
Datenaufzeichnung von bis zu 34 Sekunden in Full-HD-Auflösung direkt auf dem Kameraspeicher oder bis zu 15 Minuten mit 512 GB SSD
Streamen Sie thermische Daten direkt auf einen Computer, um sie mit FLIR Research Studio anzusehen, aufzuzeichnen und zu analysieren

Technische Daten

Highlighted
Auflösung 1280 × 1024
Detektorraster 12 µm
Spektralbereich 7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)
Detektortyp Strained layer superlattice (SLS)
Blendenzahl Kamera FLIR X8581 SLS (7.5–12 µm), f/2.5: f/2.5
FLIR X8583 SLS (7.5–12 µm), f/4.1: f/4.1
Dynamikbereich 14-bit
Thermische Auflösung (NETD) 40 mK typical
Bildrate [Vollbild] Programmable: ~0.5 Hz to 181 Hz
Integrationszeit Programmable: 270 ns to ~full frame
Standard-Temperaturmessbereich [mit auf die Wellenlänge abgestimmten Objektiven] -20°C to 350°C (-4°F to 662°F)
Optionaler Temperaturmessbereich [mit auf die Wellenlänge abgestimmten Objektiven] ND1: 250°C–1500°C (482°F–2732°F) ND2: 500°C–3000°C (932°F–5432°F)
Filtern 4-Position motorized warm filter wheel, standard 1-inch filters, user swappable
Fokus Motorized (compatible w/manual)
Bildgebung und optische Daten
Anzeigemodi Asynchronous integrate while read, Asynchronous integrate then read
Anzeigetyp Snapshot
Auflösung 1280 × 1024
Betriebsfähigkeit 99% typical
Bildrate [Vollbild] Programmable: ~0.5 Hz to 181 Hz
Bildzeitstempel Internal IRIG-B decoder clock TSPI accurate time stamp
Blendenzahl Kamera FLIR X8581 SLS (7.5–12 µm), f/2.5: f/2.5
FLIR X8583 SLS (7.5–12 µm), f/4.1: f/4.1
Detektorraster 12 µm
Detektortyp Strained layer superlattice (SLS)
Digitalzoom 1x, Auto (best fit)
Direkt zur SSD-Aufnahme Yes, removable 512 GB SSD included
Dynamikbereich 14-bit
Eingebaute Aufnahme in RAM, SSD-Aufnahmen Transfer from SSD through GigE, CXP, or CL to Research Studio v2.1 or higher
Filtern 4-Position motorized warm filter wheel, standard 1-inch filters, user swappable
Fokus Motorized (compatible w/manual)
Integrationszeit Programmable: 270 ns to ~full frame
Kamerainterner Bildspeicher RAM (volatile): 16 GB, up to 6,500 frames full frame SSD (user-removable/non-volatile): ~15 minutes of recording with included 512 GB SSD (more than 2 hours possible with 4 TB SSD purchased separately)
Makroobjektive/Mikroskope 1x
Objektivanschluss FLIR FPO-M (4-tab bayonet, motorized)
Overlay Customizable (ability to toggle off)
Palette Selectable 8-bit
Pixeltakt 355 MHz
Radiometrisches Datenstreaming Simultaneous Gigabit Ethernet (GigE Vision), Camera Link,CoaXPress® 1.1, dual 5 Gb links
Sensorkühlung Linear sterling cooler
Spektralbereich 7.5 µm (lower), 11.5–12.5 µm (upper)
Standardvideo HDMI, SDI
Teilbildmodi Flexible windowing down to 64 × 4 (steps of 64 columns, 4 rows)
Thermische Auflösung (NETD) 40 mK typical
Verfügbare Objektive Manual (7.5–12 µm): 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm Motorized (7.5–12 µm): 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm
Videomodi HD-SDI: 720p@50/59.9Hz, 1080p@25/29.97Hz; SD-SDI: 480i@60Hz, 576i@50Hz
Messung und Analyse
Automatische Kontrastabstimmung Manual, Linear, Plateau equalization, ROI, DDE
Driftkompensation [werkseitig kalibriert] Yes
Genauigkeit ≤100°C: ±2°C (±1°C typical), >100°C: ±2% of reading (±1% typical)
Optionaler Temperaturmessbereich [mit auf die Wellenlänge abgestimmten Objektiven] ND1: 250°C–1500°C (482°F–2732°F) ND2: 500°C–3000°C (932°F–5432°F)
Standard-Temperaturmessbereich [mit auf die Wellenlänge abgestimmten Objektiven] -20°C to 350°C (-4°F to 662°F)
Kommunikation und Datenspeicher
Synchronisierungsmodi Sync In, Sync Out, Tri-Level Sync
Allgemeine Angaben
Gewicht (ohne Objektiv und mit Griff) 6.35 kg (14 lbs)
Stromversorgung
Stromversorgung 24 VDC (<50 W steady state)
Umgebungsfaktoren und Zertifizierungen
Befestigung 2 × 1/4 in. -20 / 1 × 3/8 in. -16 / 4 × #10 -24 / Side: 3x 1/4 in. -20 (each side)
Betriebstemperaturbereich -20°C to 50°C (-4°F to 122°F)

Accessories

Resources & Support

Artikel

FLIR Innovate and Inspire: ein neues FLIR Magazin

So funktioniert es

Datasheet

FLIR X8580 SLS Datenblatt

Datasheet

FLIR X8580 SLS Datasheet

Datasheet

FLIR X8580 SLS Datasheet GB

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