高速、高解像度

FLIR Xシリーズ

重要なテストの瞬間を失わない

科学、防衛、航空宇宙研究などの厳しい環境では、重要なテストイベントはほんの数秒しか続かず、データが欠落していると、コスト高になる可能性があります。 したがって、高速イベントを完璧にキャプチャしてストリーミングするには、高性能赤外線カメラが欠かせません。これにより、データ損失やフレーム落ちを防げます。

FLIR X6980-HSおよびX8580-HSのご紹介：Xシリーズファミリーの最新製品。これらの高速、高解像度赤外線カメラは、比類のないデータストリーミング機能を提供し、フレーム落ちゼロを保証します。

テストにお金がかかる分野では、フレームが1つなくなるだけでも、重要なデータが失われる可能性があります。

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作業方法に合う分析ソフトウェア 

FLIR Research Studio

Research Studioは、正確な熱データを表示、記録、分析、報告する、迅速かつ効率的な方法を提供します。合理化された直感的なGUIと独自の機能セットにより、あらゆるレベルのユーザーが簡単に、複数のFLIRカメラと記録されたソースからの熱データを同時に記録・評価できます。

Research Studioの詳細

研究に適したカメラを選択してください

FLIR X8580-HS: 高解像度画像、高速フレームレート

非破壊試験（NDT）、高度な放射測定、電子部品設計、およびターゲットシグネチャ特性評価はすべて、ノイズを最小限に抑えながら小さな温度差を検出するX8580-HS InSbの高解像度1280×1024熱センサの恩恵を受けています。さらに、X8580-HS SLSは、長波の歪みのある層スーパーラティス検出器を備え、より短いスナップショット速度で高速イベントの鮮明な停止モーション画像をキャプチャできます。

詳細情報およびデモのスケジュールについては、FLIRの専門家にご相談ください。

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FLIR X6980-HS InSb™

FLIR X6980-HS InSb™

  • 640 × 512の熱解像度
  • FLIRインジウムアンチモン（InSb）検出器
  • 1.5～5.0 µmのスペクトル範囲
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解像度

640 × 512

検知器間隔

25µm

スペクトル範囲

1.5–5.0 µm

FLIR X6980-HS SLS™

FLIR X6980-HS SLS™

  • 640 × 512の熱解像度
  • 歪超格子（SLS）検出器
  • 7.5 µm（下）、11.5～12.5 µm（上）のスペクトル範囲
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解像度

640 512×

検知器間隔

25µm

スペクトル範囲

7.5µm（下部）、11.5–12.5µm（上部）

FLIR X8580-HS InSb™

FLIR X8580-HS InSb™

  • 1280 × 1024の熱解像度
  • FLIRインジウムアンチモン（InSb）検出器
  • 1.5～5.0 µmのスペクトル範囲
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解像度

1280 × 1024

検知器間隔

12µm

スペクトル範囲

FLIR X8580-HS InSb、FLIR X8582-HS InSb ： 1.5 – 5.0 µm
FLIR X8581-HS InSb、FLIR X8583-HS InSb： 3.0 – 5.0 µm

FLIR X8580-HS SLS™

FLIR X8580-HS SLS™

  • 1280 × 1024の熱解像度
  • 歪超格子（SLS）検出器
  • 7.5 µm（下）、11.5～12.5 µm（上）のスペクトル範囲
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解像度

1280 × 1024

検知器間隔

12µm

スペクトル範囲

7.5µm（下部）、11.5–12.5µm（上部）

解像度

640 × 512

解像度

640 512×

解像度

1280 × 1024

解像度

1280 × 1024

検知器間隔

25µm

検知器間隔

25µm

検知器間隔

12µm

検知器間隔

12µm

スペクトル範囲

1.5–5.0 µm

スペクトル範囲

7.5µm（下部）、11.5–12.5µm（上部）

スペクトル範囲

FLIR X8580-HS InSb、FLIR X8582-HS InSb ： 1.5 – 5.0 µm
FLIR X8581-HS InSb、FLIR X8583-HS InSb： 3.0 – 5.0 µm

スペクトル範囲

7.5µm（下部）、11.5–12.5µm（上部）

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FLIR X6980-HS INSB データシート

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