FLIR X8580-HS SLS™

Hochauflösende LWIR-Kamera in wissenschaftlicher Qualität

Product Variations

Die FLIR X8580-HS SLS ist eine hochauflösende Hochgeschwindigkeits-Langwellen-IR-Kamera, die für Wissenschaftler und Ingenieure entwickelt wurde, die detaillierte Bilder von schnellen Ereignissen aufnehmen, individuelle radiometrische Messungen durchführen oder Fehlstellen in Verbundwerkstoffen, Solarzellen und Elektronik erkennen müssen. Diese Wärmebildkamera kombiniert die Auflösung des SLS-Detektors von 1280 × 1024 Pixeln mit einer sehr hohen Bildfrequenz, um kürzere Momentaufnahmen und breitere Temperaturbereiche zu bieten und so von sehr schnellen Ereignissen scharfe Bilder in Stop-Motion zu machen. Mit einem motorgetriebenen Filterrad mit vier Positionen und Unterstützung für motorgetriebene Fokusobjektive von FLIR ermöglicht die X8580-HS SLS bessere Aufnahmen, spart Zeit und verringert die Frustration in dynamischen Aufnahmeumgebungen.

Erleben Sie unübertroffene Bildklarheit und Geschwindigkeit mit 10 GigE, CXP 2.1-Hochgeschwindigkeitsschnittstellen oder Camera Link Full.
Erfassen Sie mehr als zwei Stunden detaillierte thermische Ereignisse direkt auf einer 4-TB-SSD-Festplatte ohne Bildverluste.
Proprietäres Triggering-, Synchronisations- und genaues IRIG-Zeitstempelsystem sorgt für präzise und pünktliche Aufnahmen.

Technische Daten

Highlighted
Auflösung 1280 × 1024
Detektorraster 12 µm
Spektralbereich 7,5 µm (unterer), 11,5–12,5 µm (oberer)
Detektortyp Strained Layer Superlattice (SLS)
Blendenzahl Kamera FLIR X8581-HS SLS (7,5–12,5 µm), f/2,5: f/2,5
FLIR X8583-HS SLS (7,5–12 μm), f/4,0: f/4,0
Dynamikbereich 14 Bit
Thermische Auflösung (NETD) 40 mK typisch
Bildrate [Vollbild] Programmierbar: ~0,5 Hz bis 181 Hz
Integrationszeit Programmierbar: 270 ns bis ca. Vollbild
Standard-Temperaturmessbereich [mit auf die Wellenlänge abgestimmten Objektiven] FLIR X8581-HS SLS (7,5–12,5 µm), 1:2,5: -20 °°C bis 300 °°C (-4 °°F bis 572 °°F)
FLIR X8583-HS SLS (7,5–12 μm), f/4,0: -20 °C bis 350 °C (-4 °F bis 662 °F), -10 °C für Mikroskope
Optionaler Temperaturmessbereich [mit auf die Wellenlänge abgestimmten Objektiven] ND1: 250 °C–1500 °C (482 °F–2732 °F)ND2: 500 °C–3000 °C (932 °F–5432 °F)
Filtern 4-Position motorized warm filter wheel, standard 1-inch filters, user swappable
Fokus Motorisiert (kompatibel mit Handmotor)
Bildgebung und optische Daten
Anzeigemodi Asynchrone Integration beim Auslesen; Asynchrone Integration vor dem Auslesen
Anzeigetyp Schnappschuss (Einzelbild)
Auflösung 1280 × 1024
Betriebsfähigkeit ≥98 % (≥99 % typisch)
Bildrate [Vollbild] Programmierbar: ~0,5 Hz bis 181 Hz
Bildzeitstempel Interner Präzisionszeitstempel. IRIG-B-AM-Decoder, TSPI-genau, Freilauf bei Verlust des Synchronisierungssignals
Blendenzahl Kamera FLIR X8581-HS SLS (7,5–12,5 µm), f/2,5: f/2,5
FLIR X8583-HS SLS (7,5–12 μm), f/4,0: f/4,0
Detektorraster 12 µm
Detektortyp Strained Layer Superlattice (SLS)
Digitalzoom 1x, Auto (beste Passform)
Direkt zur SSD-Aufnahme Ja, auswechselbare 4 TB NVMe SSD im Lieferumfang enthalten, ca. 2 Stunden Aufnahmezeit ohne Bildverlust
Dynamikbereich 14 Bit
Eingebaute Aufnahme in RAM, SSD-Aufnahmen Übertragung von SSD über 10 GigE, CXP oder CL auf Research Studio
Filtern 4-Position motorized warm filter wheel, standard 1-inch filters, user swappable
Fokus Motorisiert (kompatibel mit Handmotor)
Integrationszeit Programmierbar: 270 ns bis ca. Vollbild
Kamerainterner Bildspeicher RAM (flüchtiger Speicher): 64 GB, bis zu 23.000 Frame Vollbild-
NVMe U.2 SSD (vom Benutzer entfernbar/nichtflüchtig): 4 TB U.2 SSD enthalten, bis zu 1,4 M Vollbild-Bilder
Makroobjektive/Mikroskope 1x
Objektivanschluss FLIR FPO-M (Bajonettverschluss mit vier Haltelaschen, motorgetrieben)
Overlay Anpassbar mit Fähigkeit zum Ausschalten
Palette 8 Bit, einstellbar
Pixeltakt 355,2 MHz
Radiometrisches Datenstreaming Simul. 10-Gigabit-Ethernet (GigE Vision), Camera Link, CoaXPress® (CXP 2.1) Single Link bei 10 Gbit/s oder Dual Link bei 5 Gbit/s
Sensorkühlung Linearer Sterlingkühler
Spektralbereich 7,5 µm (unterer), 11,5–12,5 µm (oberer)
Standardvideo HDMI, SDI
Teilbildmodi Flexibles Teilbildformat bis zu 64 x 4 (schrittweise 64 Spalten, 4 Zeilen)
Thermische Auflösung (NETD) 40 mK typisch
Verfügbare Objektive Manuell (7,5–12 µm): 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm
motorgetrieben (7,5–12 µm): 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm
Videomodi HD-SDI: 720p bei 50/59,9 Hz, 1080p bei 25/29,9 Hz, 1080p bei 60 Hz
SD-SDI: 480i bei 60 Hz, 576i bei 50 Hz
Messung und Analyse
Automatische Kontrastabstimmung Manuell, linear, Plateauausgleich, DDE
Driftkompensation [werkseitig kalibriert] Ja
Genauigkeit ≤100 °C: ±2 °C (±1 °C typisch), >100 °C: ±2 % des Messwerts (±1 % typisch)
Optionaler Temperaturmessbereich [mit auf die Wellenlänge abgestimmten Objektiven] ND1: 250 °C–1500 °C (482 °F–2732 °F)ND2: 500 °C–3000 °C (932 °F–5432 °F)
Standard-Temperaturmessbereich [mit auf die Wellenlänge abgestimmten Objektiven] FLIR X8581-HS SLS (7,5–12,5 µm), 1:2,5: -20 °°C bis 300 °°C (-4 °°F bis 572 °°F)
FLIR X8583-HS SLS (7,5–12 μm), f/4,0: -20 °C bis 350 °C (-4 °F bis 662 °F), -10 °C für Mikroskope
Kommunikation und Datenspeicher
Synchronisierungsmodi Sync In, Sync Out, Tri-Level Sync, Video Sync
Allgemeine Angaben
Gewicht (ohne Objektiv und mit Griff) 6,35 kg (14 Pfund)
Gewicht [ohne Objektiv] 6,35 kg (14 Pfund)
Stromversorgung
Stromversorgung 24 V Gleichstrom (<50 W im Dauerbetrieb)
Umgebungsfaktoren und Zertifizierungen
Befestigung 2 × 1/4 Zoll -20 / 1 × 3/8 Zoll -16 / 4 × #10 -24 / Seite: 3x 1/4 Zoll -20 (jede Seite)
Betriebstemperaturbereich -20 °°C bis 50 °°C (-4 °°F bis 122 °°F)

Resources & Support

Artikel

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So funktioniert es

Datasheet

FLIR X8580-HS SLS Datenblatt

Datasheet

FLIR X8580-HS SLS Datasheet

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