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FLIR X8580™

高解像度MWIR科学グレードカメラ

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FLIR X8580中波長赤外線IRカメラは、高速現象の詳細な画像のキャプチャー、カスタム放射測定、複合材料、太陽電池、電子機器の故障箇所の検出などを行う必要がある科学者やエンジニア向けに設計されています。このサーモグラフィカメラは、1280 × 1024 HD解像度と高速フレームレート、高速シャッタースピードを組み合わせ、研究者は、—ラボでもテストレンジでも、動きの速い被写体や急速な温度変化に対する停止動作を記録できます。X8580は、4ポジションの電動フィルターホイールとFLIRシステムズの電動フォーカスレンズのサポートにより、ダイナミックな撮影環境において、より高品質のレコーディング、時間の節約、フラストレーションの軽減を実現します。

卓越したパフォーマンス、画期的な機能
最大34秒のフルHD解像度データをカメラ上のメモリに直接記録、または最大15分で512GB SSDを搭載
専用トリガー入力と新しいTri-level Sync入力により、重要なデータを簡単にキャプチャし、画像フレームの生成を正確に制御
FLIR Research Studioソフトウェアで高度な解析を行うために、SSDからデジタルデータバスを介して熱データを直接ストリーミングすることが可能

仕様

Highlighted
解像度 1280 × 1024
検知器間隔 12 µm
スペクトル範囲 X8580 InSb, X8582 InSb: 1.5–5.0 µm
X8581 InSb: 3.0–5.0 µm
検知器タイプ FLIR indium antimonide (InSb)
カメラF値 X8580 InSb, X8581 InSb: f/2.5
X8582 InSb: f/4.1
ダイナミックレンジ 14-bit
温度分解能(NETD) 30 mK typical
フレームレート[全画面] Programmable: ~0.5 Hz to 181 Hz
標準温度範囲 [光学系にバンドマッチ] X8580 InSb, X8582 InSb: -20°C to 350°C (-4°F to 662°F)
X8581 InSb: -20°C to 350°C (-4°F to 662°F), -10°C/14°F for microscopes
オプションの温度範囲 [光学系にバンドマッチ] ND1: 45°C–600°C (113°F–1112°F) ND2: 250°C–2000°C (482°F–3632°F) ND3: 500°C–3000°C (957°F–5432°F)
フィルタリング 4-Position motorized warm filter wheel, standard 1-inch filters, user swappable
焦点 Motorized (compatible w/manual)
イメージングとレンズ
SSDへの直接録画 Yes, removable 512 GB SSD included
オンカメラ画像保存 RAM (volatile): 16 GB, up to 6,500 frames full frame SSD (user-removable/non-volatile): ~15 minutes of recording with included 512 GB SSD (more than 2 hours possible with 4 TB SSD purchased separately)
オーバーレイ Customizable (ability to toggle off)
カメラF値 X8580 InSb, X8581 InSb: f/2.5
X8582 InSb: f/4.1
カメラ上のRAM、SSD録画のダウンロード Transfer from SSD through GigE, CXP, or CL to Research Studio v2.1 or higher
クローズアップレンズ/顕微鏡 X8580 InSb, X8582 InSb: No broadband microscopes available
X8581 InSb: 1x, 3x, 50mm close focus
サブウィンドウモード Flexible windowing down to 64 × 4 (steps of 64 columns, 4 rows)
スペクトル範囲 X8580 InSb, X8582 InSb: 1.5–5.0 µm
X8581 InSb: 3.0–5.0 µm
センサータイプ Linear sterling cooler
ダイナミックレンジ 14-bit
デジタルズーム 1x, Auto (best fit)
パレット Selectable 8-bit
ビデオモード HD-SDI: 720p@50/59.9Hz, 1080p@25/29.97Hz; SD-SDI: 480i@60Hz, 576i@50Hz
ピクセルクロック 355 MHz
フィルタリング 4-Position motorized warm filter wheel, standard 1-inch filters, user swappable
フレームレート[全画面] Programmable: ~0.5 Hz to 181 Hz
レンズインターフェース FLIR FPO-M (4-tab bayonet, motorized)
利用可能なレンズ X8580 InSb, X8582 InSb: Manual (broadband): 25 mm, 50 mm, 100 mm Motorized (broadband): None
X8581 InSb: Manual (3–5 µm): 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm Motorized (3–5 µm): 17 mm, 25 mm, 50 mm, 100 mm, 200 mm
操作性 ≥99.95% typical
放射測定データストリーミング Simultaneous Gigabit Ethernet (GigE Vision), Camera Link,CoaXPress® 1.1, dual 5 Gb links
検知器タイプ FLIR indium antimonide (InSb)
検知器間隔 12 µm
標準ビデオ HDMI, SDI
温度分解能(NETD) 30 mK typical
焦点 Motorized (compatible w/manual)
画像タイムスタンプ Internal IRIG-B decoder clock TSPI accurate time stamp
解像度 1280 × 1024
読出しタイプ Snapshot
読出しモード Asynchronous integrate while read, Asynchronous integrate then read
測定解析
オプションの温度範囲 [光学系にバンドマッチ] ND1: 45°C–600°C (113°F–1112°F) ND2: 250°C–2000°C (482°F–3632°F) ND3: 500°C–3000°C (957°F–5432°F)
標準温度範囲 [光学系にバンドマッチ] X8580 InSb, X8582 InSb: -20°C to 350°C (-4°F to 662°F)
X8581 InSb: -20°C to 350°C (-4°F to 662°F), -10°C/14°F for microscopes
環境ドリフト校正 [工場校正済み] Yes
精度 ≤100°C: ±2°C (±1°C typical), >100°C: ±2% of reading (±1% typical)
自動ゲインコントロール Manual, Linear, Plateau equalization, ROI, DDE
通信とデータ保存
同期モード Sync In, Sync Out, Tri-Level Sync
電源
出力 24 VDC (<50 W steady state)
環境と認定
マウント 2 × 1/4 in -20 / 1 × 3/8 in -16 / 4 × #10 -24 / Side: 3x 1/4 in -20 (each side)
使用温度範囲 -20°C to 50°C (-4°F to 122°F)

Accessories

Resources & Support

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FLIR X8580 データシート

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韓国 2015年2月5日

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