エレクトロニクス製品の加熱場所を確認する

小型で効率と信頼性の高いエレクトロニクス部品やシステムに対する需要の高まりによって、製品開発サイクル全体を通して重要な決定をサポートするツールが必要になっています。

corp respn ironbow shorter.png

エレクトロニクスの設計と試験のためのFLIRソリューション

小型で効率と信頼性の高いエレクトロニクス部品やシステムに対する需要の高まりによって、製品開発サイクル全体を通して重要な決定をサポートするツールが必要になっています。

corp respn ironbow shorter.png

特定のエレクトロニクス用途を検索する

Picture2.jpg

研究と設計

電子回路基板、部品、および個々のデバイスの小型化が進み、より強力になるにつれて、設計概念と熱シミュレーションを検証し、設計性能と熱効率の要件を確認できるようにするための信頼できる方法が不可欠です。

Picture3.png

品質保証と試験

エレクトロニクス部品やシステムの熱性能を正確に試験して検証することにより、設計を検証し、製品の長期的な信頼性を高めて、現場での故障の可能性を減らすことができます。

Picture4.jpg

トラブルシューティングと修理

電子システムが故障したときに、障害や短絡の場所を迅速に特定するには、適切なツールが必要です。非接触型サーマルイメージングを使用すると、問題領域を視覚的に特定し、トラブルシューティングを高速化して修理状況を検証するのに役立ちます。

ベンチトップ・テスト・キット

FLIR ETS320

FLIR ETS320

エレクトロニクス試験用サーモグラフィカメラ

FLIR A65sc Test Kit

FLIR A65sc Test Kit

ベンチトップ型赤外線サーマルカメラ

FLIR A35sc テストキット

FLIR A35sc テストキット

ベンチトップ赤外線カメラ

研究および科学キット

FLIR A50/A70 研究開発キット

FLIR A50/A70 研究開発キット

固定型赤外線サーモグラフィカメラ

FLIR Aシリーズ

FLIR Aシリーズ

サイエンスキット

高性能Aシリーズカメラ

FLIR A8580 SLS

FLIR A8580 SLS

コンパクトなLWIR HDサーモグラフィカメラ

FLIR A8580 MWIR

FLIR A8580 MWIR

コンパクトなHDサーモグラフィカメラ

FLIR A6750 SLS

FLIR A6750 SLS

長波長赤外線サーマルカメラ

FLIR A6750 MWIR

FLIR A6750 MWIR

InSb検出器を搭載した高性能なMWIRカメラ

FLIR A6700 MWIR

FLIR A6700 MWIR

InSb検出器を搭載した科学グレードのMWIRカメラ

FLIR A655sc

FLIR A655sc

高解像度の科学グレードLWIRカメラ

FLIR A6260

FLIR A6260

InGaAs検出器を備えたSWIRカメラ